Сканиращ тунелен микроскоп: Разлика между версии
Изтрито е съдържание Добавено е съдържание
Luckas-bot (беседа | приноси) м r2.7.1) (Робот Добавяне: bs:Skenirajući tunelski mikroskop |
мРедакция без резюме |
||
Ред 1:
[[Image:Atomic resolution Au100.JPG|250px|thumb|Изображение на златна
[[Картинка:ScanningTunnelingMicroscope schematic.png|350px|thumb|right|Обща схема на СТМ]]
'''Сканиращият тунелен микроскоп''' (СТМ) е вид [[микроскоп]], позволяващ да се изучават повърхности на атомно ниво. СТМ сондира [[плътност на състоянията|плътността на състоянията]] в даден материал, като детектира тунелния ток. Съвременните СТМ имат [[разделителна способност]] от около 0.1 nm на ширина и 0.01 nm на дълбочина. За изобретяването му, физиците [[Герд Биниг]] и [[Хайнрих Рорер]] получават [[Нобелова награда за физика|Нобеловата награда по физика]] за 1986.
Идеята за СТМ се основава на явлението [[тунелен преход]]. Когато върхът на тънка метална жичка бъде доближен до [[метал]]на или [[полупроводник]]ова повърхност, на достатъчно близко разстояние, но без да са допрени, електрони от материала прескачат потенциалната бариера и отиват във връхчето на жичката - потича тунелен ток. При ниско напрежение, тунелния ток е функция от локалната плътност на състоянията, т.е. вариациите, в силата на тока, причинени от движението на жичката по повърхността, се превръщат в изображение. За получаване на добро изображение са необходими изключително чисти повърхности. ▼
▲Идеята за СТМ се основава на
{{физика-мъниче}}
|