Атомно-силов микроскоп: Разлика между версии

'''Атомно-силов микроскоп''' (АСМ, {{lang-en|AFM — atomic-force microscope}}) е [[микроскоп]] с висока [[разделителна способност]], основан на взаимодействието на сонда (тънко острие) с повърхността на изследвания образец. Това взаимодействие се изразява в привличане или отблъскване на сондата от повърхността, дължащо се на силите на [[Ван дер Ваалс]]. Чрез използването на специални остриета могат да бъдат изучавани електрическите и магнитните свойства на повърхностите. За разлика от сканиращия тунелен микроскоп, с помощта на АСМ могат да се изследват както проводящи, така и непроводящи повърхности. Освен това с АСМ може да се измерва и релефарелефът на образец, потопен в течност, което позволява да се работи с органични молекули, включително [[ДНК]]. Пространствената разделителна способност на атомно-силовия микроскоп зависи от радиуса на кривината на острието и по вертикала достига атомарни размери, а по хоризонтала е значително по-голямо.

Атомно-силовият микроскоп представлява система образец + острие, закрепено в единия край (кантилевър) <ref> {{икона ru}} [http://www.ntmdt.ru/spm-principles/view/afm Описание принципа АСМ]</ref>. На малки разстояния между двойката атоми — един на образеца, другият на острието, при разстояние от около един [[ангстрьом]] действуват сили на отблъскване, а на по-големи разстояния — сили на привличане. Големината на силите зависи експоненциално от разстоянието между образеца и иглата. Отклоненията на острието се регистрират с помощта на чувствителни [[сензор]]и — оптични, капацитивни или тунелни. Ако към системата се добави устройство за разгъвка по осите X и Y, се получава сканиращ АСМ.