Единичен магнитен диск: Разлика между версии
Изтрито е съдържание Добавено е съдържание
Demar-stil (беседа | приноси) |
Demar-stil (беседа | приноси) |
||
Ред 20:
*В зависимост от използваната подложка си правят различни видове обработка. При алуминиевата подложка се прави NiP покритие, което се полира след това.
*Нанасяне на различни видове слоеве чрез разпрашване, включително и последно покритие за лубрикиращи свойства –например графит.
*Тестване : основен вид тест при магнитните дискове е тестването с ниско летяща глава с около 30% по-малка височина от нормалната магнитна глава. Тази глава притежава [[пиезоелектричен ефект|пиезодатчик]], който при докосване на дефект върху диска, подава сигнал и главата преминава многократно върху този дефект до отстраняването му. Тестване за дефекти на покритието с глава за запис/четене.
*Всички операции по производството на магнитни дискове се извършват в [[чиста стая|чисти стаи]]. Причината е, че докато височината на летене и при първите поколения дискове е от порядъка на 2-3 микрона, при новите дискови устройства от порядъка на 0,1 – 0,2 микрона и всеки дефект на повърхността между магнитните глави и единичните магнитни дискове може да доведе до грешки в информацията и намаляване на надежността на изделията.
* Намаляването на размерите на единичните магнитни дискове, независимо от увеличената линейна плътност на запис изисква заради увеличаващата се скорост на обмен на информация по-голяма скорост на въртене на шпиндел двигателя на твърдия диск. Това повищава изискванията към механичните характеристики на повърхността му. Перфектна повърхност, равнинност и устойчивост са необходими, за да се осигури и голяма надеждност на твърдия диск.
| |||