Файл:AFMsetup.jpg
AFMsetup.jpg (721 × 569 пиксела, големина на файла: 86 КБ, MIME-тип: image/jpeg)
История на файла
Избирането на дата/час ще покаже как е изглеждал файлът към онзи момент.
Дата/Час | Миникартинка | Размер | Потребител | Коментар | |
---|---|---|---|---|---|
текуща | 14:10, 21 ноември 2006 | 721 × 569 (86 КБ) | KristianMolhave | *Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made |
Използване на файла
Следната страница използва следния файл:
Глобално използване на файл
Този файл се използва от следните други уикита:
- Употреба в ast.wikipedia.org
- Употреба в bs.wikipedia.org
- Употреба в ca.wikipedia.org
- Употреба в da.wikipedia.org
- Употреба в en.wikipedia.org
- Microscope
- Nanotechnology
- Scanning tunneling microscope
- Atomic force microscopy
- Scanning probe microscopy
- Scanning voltage microscopy
- Millipede memory
- Electrochemical scanning tunneling microscope
- Dip-pen nanolithography
- Magnetic force microscope
- Kelvin probe force microscope
- Near-field scanning optical microscope
- Scanning gate microscopy
- Magnetic resonance force microscopy
- Electrostatic force microscope
- Scanning ion-conductance microscopy
- Scanning probe lithography
- Spin-polarized scanning tunneling microscopy
- Feature-oriented scanning
- Feature-oriented positioning
- Counter-scanning
- User:Antony-22/Navboxes
- Template:Scanning probe microscopy
- Scanning capacitance microscopy
- Scanning Hall probe microscope
- Photothermal microspectroscopy
- Ballistic electron emission microscopy
- User:Bci2
- Chemical force microscopy
- Scanning SQUID microscopy
- Scanning thermal microscopy
- User:Bci2/Books/Wk1Book
- User:Bci2/Books/Wk2Book
- User:Bci2/Books/Wk3vol1
- User:Bci2/Books/Wk4
- Local oxidation nanolithography
- Conductive atomic force microscopy
- Piezoresponse force microscopy
- Scanning joule expansion microscopy
- User:GERphysicist/Synchrotron x-ray scanning tunneling microscopy
- Photoconductive atomic force microscopy
- Vibrational analysis with scanning probe microscopy
Преглед на глобалната употреба на файла.