Сканиращ тунелен микроскоп: Разлика между версии
Изтрито е съдържание Добавено е съдържание
м без right/дясно в картинки (x1) |
м →top: -, replaced: [разделителна способност] → [разделителна способност (оптика)|] редактирано с AWB |
||
Ред 2:
[[File:ScanningTunnelingMicroscope schematic.png|350px|thumb|Обща схема на СТМ]]
'''Сканиращият тунелен микроскоп''' (СТМ) е вид [[микроскоп]], позволяващ да се изучават повърхности на атомно ниво. СТМ сондира [[плътност на състоянията|плътността на състоянията]] в даден материал, като детектира тунелния ток. Съвременните СТМ имат [[разделителна способност (оптика)|разделителна способност]] от около 0,1 nm на ширина и 0,01 nm на дълбочина. За изобретяването му физиците [[Герд Биниг]] и [[Хайнрих Рорер]] получават [[Нобелова награда за физика|Нобеловата награда по физика]] за 1986 г.
Идеята за СТМ се основава на квантово-механичния ефект [[тунелен преход]]. Когато върхът на тънка метална жичка бъде доближен до [[метал]]на или [[полупроводник]]ова повърхност на достатъчно близко разстояние, но без да я допира, електрони от повърхността (на изследвания образец) прескачат потенциалната бариера и отиват във връхчето на жичката — протича електрически (тунелен) ток. При ниско напрежение тунелният ток е функция от локалната плътност на състоянията, т.е. вариациите в силата на тока, причинени от движението на жичката по повърхността, се превръщат в [[изображение]]. За получаване на добро изображение са необходими изключително чисти повърхности.
| |||